Preview

Advanced Engineering Research

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Соловьев А.Н., Черпаков А.В., Васильев П.В., Паринов И.А., Кириллова Е.В. Нейросетевая технология идентификации размеров дефекта в полуплоскости на основе временного и позиционного сканирования. Advanced Engineering Research. 2020;20(3):205-215. https://doi.org/10.23947/2687-1653-2020-20-3-205-215

For citation:


Solov'ev A.N., Cherpakov A.V., Vasil’ev P.V., Parinov I.A., Kirillova E.V. Neural network technology for identifying defect sizes in half-plane based on time and positional scanning. Advanced Engineering Research. 2020;20(3):205-215. https://doi.org/10.23947/2687-1653-2020-20-3-205-215

Просмотров: 6


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 2687-1653 (Online)